Wafer Debonding
8英寸晶圆级无损去硅
8英寸晶圆级可控剥离,实现大面积完整转移,良率>95%,为化合物半导体与硅基IC的后续晶圆级键合建立量产基础。
8英寸晶圆级平台
>95%工艺良率
量产级大面积完整转移
工艺即基建。汉骅以异质异构3D集成为核心,辅以全栈氮化镓外延能力,为后摩尔时代提供全新融合型制造底座。
Full Stack 3DIC
晶圆级混合键合,打通数模集成最后一公里。点击工艺环节,查看从晶圆到规模量产的关键能力。
Wafer Debonding
8英寸晶圆级可控剥离,实现大面积完整转移,良率>95%,为化合物半导体与硅基IC的后续晶圆级键合建立量产基础。
3D Bonding
常温混合键合,对准精度<500nm,兼容TSV工艺,支持化合物半导体、MEMS、铌酸锂等多材料体系。
Open PDK
开放设计规则文件(DRC/LVS)、版图模板和仿真模型,并建设全球首个8英寸CMOS兼容Micro-LED PDK,降低异质集成设计与验证门槛。
One-stop Foundry
统一覆盖外延来料 → 去硅 → 键合 → 封装 → 测试,支持原型验证、小批试产和规模量产的一站式协同。
Full Stack GaN
定义性能天花板,为3D集成提供高品质材料基底。
高品质外延材料,是异质集成的坚实基底。
从PDK、工艺模块到一站式代工,与汉骅共同验证下一代芯片。